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顆粒測(cè)試基本知識(shí)百問(wèn)百答-20影響重復(fù)性和重現(xiàn)性的因素

更新時(shí)間:2017-06-05      點(diǎn)擊次數(shù):2272

1)儀器質(zhì)量,如激光器、探測(cè)器、信號(hào)傳輸系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、樣品制備系統(tǒng)以及軟件系統(tǒng)等是否正常。
(2)操作過(guò)程,如背景、遮光率、軟件參數(shù)、介質(zhì)溫度、分散劑用量和種類(lèi)、超聲波分散時(shí)間、樣品池是否干凈或結(jié)霧等。
(3)取樣,包括從車(chē)間里取樣和實(shí)驗(yàn)室縮分。
(4)環(huán)境條件,包括電壓、溫度、振動(dòng)、電磁干擾等。
(5)樣品,如易碎、溶解、膨脹、團(tuán)聚都會(huì)影響重復(fù)性和重現(xiàn)性。

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